disposição de circuito e processo para monitorar um microcontrolador com base em tensão de vigilância

a presente invenção refere-se a uma disposição de circuito para monitoramento do comportamento de timing de um microcontrolador que compreende um microcontrolador (µc), o qual está disposto para controlar pelo menos um trecho de geração de tensão de vigilância (t1, c1, r1, r3, d1; t1, t2, c1, c2, r1, r2, r3, d1) para a geração definida por tempo de pelo menos uma tensão de monitoramento (uc; u1, u2) e em um momento predeterminado detectar e ler a tensão de monitoramento gerada (uc; u1, u2), e o dito pelo menos um trecho de geração de tensão de vigilância (t1, c1, r1, r3, d1; t1, t2, c2, r1, r2, r3, d1), o qual está disposto para gerar, através de exploração, a tensão de monitoramento (uc; u1, u2) detectável por meio do microcontrolador, sendo que uma tensão de monitoramento (uc; u1, u2) que fica dentro de uma faixa de tolerância de tensão predeterminada, detectada no momento de exploração indica um estado livre de defeito do microcontrolador (µc), e uma tensão de monitoramento (uc; u1, u2) que fica fora da faixa de tolerância de tensão predeterminada, detectada no momento predeterminado indica um estado defeituoso do microcontrolador (µc). um processo para monitoramento de um microcontrolador com base na tensão de vigilância baseia-se na geração de uma tenção de monitoramento no circuito de vigilância mencionado anteriormente. A circuit assembly for monitoring the timing behavior of a microcontroller, including: a microcontroller to drive at least one watchdog voltage generating section for a temporally defined generation of at least one monitoring voltage and to detect and read in the generated monitoring voltage at a predetermined sampling point in time; in which the at least one watchdog voltage generating section is arranged to generate the monitoring voltage that is detectable at a predetermined sampling point in time by sampling by the microcontroller, in which a monitoring voltage that is detected at the sampling point in time and lies within a predetermined voltage tolerance range indicates a fault-free microcontroller state, and a monitoring voltage that is detected at the predetermined point in time and lies outside the predetermined voltage tolerance range indicates a faulty microcontroller state. Also described is a related method.