RASTREAMENTO DE PROCESSO, TENSÃO E TEMPERATURA HETEROGÊNEO MULTIDOMÍNIO PARA REDUÇÃO DE ENERGIA DE CIRCUITO INTEGRADO

RASTREAMENTO DE PROCESSO, TENSÃO E TEMPERATURA HETEROGÊNEO MULTIDOMÍNIO PARA REDUÇÃO DE ENERGIA DE CIRCUITO INTEGRADO. Os sistemas e métodos descritos aqui fornecem meios eficientes (por exemplo, baixa energia e baixa área) para rastrear desempenho em inúmeros domínios de alimentação com circuitos heterogêneos que são usados em um circuito integrado de sistema em um chip (SoCs) grande. Os circuitos heterogêneos podem incluir circuitos feitos com diferentes dispositivos, diferentes bibliotecas de células, e diferentes macros rígidos que estão em diferentes domínios de alimentação de energia. Medições de desempenho dos sensores de desempenho (ou sensores de processo, tensão e temperatura (PVT)) que são espalhadas sobre o SoC são recolhidas e processadas para determinar níveis de tensão para cada um dos domínios de alimentação. Um único controlador pode receber pode determinar níveis de tensão para um SoC inteiro. Os sensores de desempenho estão conectados para o controlador por uma cadeia de varredura. A técnica é flexível e pode ser facilmente adaptada para uso no SoCs com diferentes domínios de alimentação de energia e tipos de circuitos. The systems and method described herein provide efficient (e.g., low power and low area) techniques to track performance in numerous supply domains with heterogeneous circuits that are used in a large system-on-a-chip integrated circuit (SoCs). The heterogeneous circuits can include circuits made with different devices, different cell libraries, and different hard macros that are in different power supply domains. Performance measurements from performance sensors (or process-voltage-temperature (PVT) sensors) that are spread about the SoC are collected and processed to determine voltage levels for each of the supply domains. A single controller can receive can determine voltage levels for a whole SoC. The performance sensors are connected to the controller by a scan chain. The techniques are flexible and can be easily adapted for use in SoCs with different power supply domains and types of circuits.