método de medição de conformação

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	HIDETAKE KIRYU, HIROSHI OISHI, KENJI KURA, KENJIRO YAMASAKI, HIDEAKI YAMAMOTO
Format:	Patent
Sprache:	por
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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