método para a detecção de defeitos para monitorar um processo para a fabricação de um produto alimentício e aparelho adaptado para detectar defeitos para monitorar um processo para a fabricação de um produto alimentício

método para a detecção em tempo real de defeitos em um produto alimentício e em seu processo de fabricação, arranjo de portas programável em campo e aparelho para monitoramento de defeitos em um processo para a fabricação de um produto alimentício. a presente invenção é um método para detectar defei...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ENRIQUE MICHEL, WILFRED MARCELLIEN BOURG JR
Format:	Patent
Sprache:	por
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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