método e equipamento de posicionamento automático para microscopia por varredura de sonda e espectroscopia óptica in situ

o presente pedido de patente descreve um método e um equipamento capazes de posicionar automaticamente uma sonda usada para procedimentos de microscopia de varredura por sonda (do inglês, scanning probe microscopy ou spm), incluindo seu acoplamento com sistemas ópticos, como em microscopia óptica de...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LUIZ GUSTAVO DE OLIVEIRA LOPES CANÇADO, CASSIANO RABELO E SILVA, LUIZ FERNANDO ETRUSCO, JOHNATHAN MAYKE MELO NETO, ADO JÓRIO DE VASCONCELOS, HUDSON LUIZ SILVA DE MIRANDA, LAURA PINTO COELHO AMORIM
Format:	Patent
Sprache:	por
Schlagworte:	APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM] COLORIMETRY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT MEASURING PHYSICS RADIATION PYROMETRY SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS TESTING
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