método e equipamento de posicionamento automático para microscopia por varredura de sonda e espectroscopia óptica in situ

o presente pedido de patente descreve um método e um equipamento capazes de posicionar automaticamente uma sonda usada para procedimentos de microscopia de varredura por sonda (do inglês, scanning probe microscopy ou spm), incluindo seu acoplamento com sistemas ópticos, como em microscopia óptica de campo próximo (do inglês scanning near-field optical microscopy ou snom) ou espectroscopia raman por efeito de sonda (do inglês tip enhanced raman spectroscopy ou ters), que exigem que a mesma seja precisamente posicionada e manipulada. o método e equipamento propostos baseiam-se em recursos de visão computacional e de controle de posicionamento em malha fechada utilizando-se a retroalimentação visual. experimentos de spm, snom e ters são úteis em indústrias de manufatura de precisão, microeletrônica e biomédica, dentre outras áreas de ciência e tecnologia em que tal monitmamento resulta em uma melhora de qualidade e confiabilidade dos produtos.