dispositivo e método de inspeção por shearografia

dispositivo e método de inspeção por shearografia a presente invenção refere-se a um dispositiv de inspeção por shear grafia para inspeção de pelo menos uma seção e um duto (6), o dispos tivo compreende: pelo menos uma base (2) con igurada para ser apoiad contra a superfície curva do duto (6); pelo...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	DANIEL PEDRO WILLEMANN, ARMANDO ALBERTAZZI GONÇALVES JUNIOR, SERGIO DAMASCENO SOARES, ANALUCIA VIEIRA FANTIN
Format:	Patent
Sprache:	por
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	dispositivo e método de inspeção por shearografia a presente invenção refere-se a um dispositiv de inspeção por shear grafia para inspeção de pelo menos uma seção e um duto (6), o dispos tivo compreende: pelo menos uma base (2) con igurada para ser apoiad contra a superfície curva do duto (6); pelo me os uma estrutura de in peção (3) ligada à base (2), a estrutura e inspeção (3) compr endendo um meio de captação (4) e um meio e iluminação (5) para i speção por shearografia; e uma cinta (8) para fixação da pelo menos uma base (2) ao duto (6). a presente invenção refere-se também a um método de inspeç o por shearografia para um dispositivo d inspeção por shearo rafia como descrito acima.