DEVICE FOR MEASURING AND CLASSIFYING OF SEMI- CONDUCTOR ELEMENTS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MARINOV,MILCHO S, STANEV,STEFAN G, VELCHEV,VASIL M, GERGOV,RUMEN P, PETROV,PETR D, GEORGIEV,ZHIVKO K
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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