Telephony test system with adjustable output impedance

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: FREDERICK J. KIKO, REGIS J. NERO JR, RICHARD A. BAIR JR, LEO W. MANUEL II, LESTER MINTZER, LOUIS W. HIENER III
Format: Patent
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung: