A method and an apparatus for flaw detection

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	TOMIKAZU YAGI, RYUZO YAMADA, TAIZO YANO, TOSHIO ENDO, NOBUO ISHIKAWA
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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