High linearity, low offset interface for hall effect devices

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ANDREW LANCASTER, FARAH KOBBI, KARL HEINZ-BUETHE, WENDELL GOODWIN, MICHEL GERVAIS
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!