Micro connector to facilitate testing of micro electronic component and subassemblies

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	PHILIP J. SCHHUSTER, JEFFREY L. HAMES, RYAN HILLE
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS CURRENT COLLECTORS ELECTRICITY LINE CONNECTORS MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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