High throughput separations based analysis systems

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	STEVEN A SUNDBERG, WALTER AUSSERER, BENJAMIN N. WANG, ANDREA W. CHOW, ROBERT S. DUBROW, LUC J. BOUSSE
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICALDEVICES MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY PERFORMING OPERATIONS PHYSICS TESTING TRANSPORTING
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