Mehrkanal-Testsystem mit galvanischer Kopplung von Zwischenkreisen und Verfahren zur galvanischen Kopplung von Zwischenkreisen

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mehrkanal-Testsystem (100) und ein Verfahren zur Versorgung von Testverbrauchervorrichtungen (61, 62) mit elektrischer Leistung aus einem Versorgungsnetz, mit wenigstens einem ersten Testkanal (10) und einem zweiten Testkanal (20), die galvanisch getrennt sind....

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Johannes Ornig, Manfred Seidl Ing, Michael Pumberger Dipl.Ing, Oliver König Dr
Format: Patent
Sprache:ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mehrkanal-Testsystem (100) und ein Verfahren zur Versorgung von Testverbrauchervorrichtungen (61, 62) mit elektrischer Leistung aus einem Versorgungsnetz, mit wenigstens einem ersten Testkanal (10) und einem zweiten Testkanal (20), die galvanisch getrennt sind. Es ist wenigstens eine Schaltvorrichtung (40) vorgesehen zur schaltbaren galvanischen Koppelung von Zwischenkreisen (13, 23) der Testkanäle (10, 20) zu einem gemeinsamen Zwischenkreis angeordnet. Hierfür ist neben einer phasengesteuerten, variabel einstellbaren Gleichrichtung ferner auch eine ungesteuerte, invariable Gleichrichtung in einem passiven Betriebsmodus von einer aktiven Leistungsstufe (12, 22) in Leistungswandlerschaltungen (16, 26, 36) der Testkanäle (10, 20, 30) bereitgestellt. The invention relates to a multichannel test system (100) and to a method for supplying test load devices (61, 62) with electric power from a supply grid, comprising at least one first test channel (10) and a second test channel (20) which are galvanically isolated. At least one switch device (40) is provided for galvanically coupling intermediate circuits (13, 23) of the test channels (10, 20) in a switchable manner in order to form a common intermediate circuit. This is achieved in that in addition to a phase-controlled variably adjustable rectifier, an uncontrolled fixed rectifier is provided by an active power stage (12, 22) in power converter circuits (16, 26, 36) of the test channels (10, 20, 30) in a passive operating mode.