Führungs- und Stützglied für eine Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilen

Die Erfindung geht aus von einem Führungs- und Stützglied in einer Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilen (11), welches in eine Zuführ- und in eine Prüfstellung bewegbar ist, mit einem Grundkörper (2, 3) zur Aufnahme eines zu prüfenden elektronischen Bauteils (11), mit wenigstens einer Auflage (4) zur Stützung von Kontaktfedern (12) des zu prüfenden elektronischen Bauteils (11) und mit wenigstens einem Anschlag (5), der die Bewegung des zu prüfenden elektronischen Bauteils (11) an einer seiner Kontaktfedern (12) stoppt wenn sich das zu prüfenden elektronischen Bauteils (11) in exakter Position befindet. Erfindungsgemäß besteht die wenigstens eine Auflage (4) aus einem keramischen Werkstoff wobei der Anschlag (5) in dem Grundkörper (2, 3) verankert ist. Embodiments of the invention come up from a guide and support member within a device for testing electronic components, which guide and support member can be moved into a feeding position and into a testing position, the guide and support member with a base body for accommodating an electronic component to be tested, with at least one support for supporting contact springs of the electronic component to be tested, and with at least one stopper that stops the movement of the electronic component to be tested at one of its contact springs once the electronic component to be tested is in an exact position. According to the invention, the at least one support comprises a ceramic material, wherein the stopper is anchored in the base body.