Verfahren zur Bestimmung einer Oberflächenruhe einer Dekoroberfläche
Ein Verfahren zur Bestimmung einer Oberflächenruhe einer Dekoroberfläche (1), wobei ein von einer in einem vorgegebenen Abstand und unter einem vorgegebenen Winkel (α) zu der Dekoroberfläche (1) angeordneten Lichtquelle (2) emittiertes Lichtbündel an der Dekoroberfläche (1) reflektiert wird, wobei e...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Ein Verfahren zur Bestimmung einer Oberflächenruhe einer Dekoroberfläche (1), wobei ein von einer in einem vorgegebenen Abstand und unter einem vorgegebenen Winkel (α) zu der Dekoroberfläche (1) angeordneten Lichtquelle (2) emittiertes Lichtbündel an der Dekoroberfläche (1) reflektiert wird, wobei eine örtliche Verteilung der Intensität des reflektierten Lichtbündels in einem vorgegebenen Abstand von der Dekoroberfläche (1) und unter einem vorgegebenen Winkel (β) zu dieser mittels eines lichtempfindlichen Sensors (3) erfasst und aus zumindest einem von dem Sensor (3) erzeugten Signal zumindest ein Kennwert für die Oberflächenruhe ermittelt wird, wobei das von der Lichtquelle emittierte Licht, in Form einer scharf umrandeten, insbesondere einem Kegelschnitt entsprechenden Fläche mit einer vorgegebenen Größe auf die Dekoroberfläche (1) projiziert und die auf die Dekoroberfläche projizierte Fläche auf dem Sensor (3) abgebildet wird, wobei zumindest eine einem vorgebbaren Wert der Intensität entsprechende Breite (FWN) zumindest eines Profils der Intensitätsverteilung um einen vorgegebenen Punkt, insbesondere des hellsten Punktes der Intensitätsverteilung, ermittelt wird. |
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