Breaking the limits of functional Atomic Force Microscopy imaging using Focused Electron Beam Induced Deposition

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	BIO web of conferences 2024, Vol.129, p.10002
Hauptverfasser:	Brugger-Hatzl, Michele, Seewald, Lukas, Winkler, Robert, Kuhness, David, Huth, Michael, Barth, Sven, Plank, Harald
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	afm cafm efm febid mfm
Online-Zugang:	Volltext
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