Overcoming the aberration-limit of a non-corrected Transmission Electron Microscope with computational ghost imaging

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	BIO web of conferences 2024, Vol.129, p.4035
Hauptverfasser:	Rosi, Paolo, Viani, Lorenzo, Rotunno, Enzo, Frabboni, Stefano, Tavaby, Amir Hossein, Dunin-Borkowski, Rafal E., Roncaglia, Alberto, Grillo, Vincenzo
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	electron-beam-shaping high-resolution mems phase-plates single-pixel-imaging
Online-Zugang:	Volltext
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