Estudo Comparativo da Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Plasma Indutivamente Acoplado com a Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Centelha para Análise Quantitativa de Aço

Este trabalho é um estudo comparativo de análise de aço de baixa liga empregando duas técnicas de mesmo fundamento básico (excitação de elétrons e emissão de fótons característicos), mas que utilizam fontes de excitação diferentes. As técnicas empregadas foram a espectrometria de emissão atômica com...

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Veröffentlicht in:Revista Eletrônica Teccen 2015-07, Vol.3 (1), p.44-58
Hauptverfasser: Alessandro D. Oliveira, Almir F. Clain
Format: Artikel
Sprache:por
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Beschreibung
Zusammenfassung:Este trabalho é um estudo comparativo de análise de aço de baixa liga empregando duas técnicas de mesmo fundamento básico (excitação de elétrons e emissão de fótons característicos), mas que utilizam fontes de excitação diferentes. As técnicas empregadas foram a espectrometria de emissão atômica com fonte de plasma indutivamente acoplado (ICP-AES) e a técnica de espectrometria de emissão ótica com fonte de centelha (Spark- AES).Um estudo estatístico comparou a precisão e a exatidão das técnicas. Os outros parâmetros utilizados na comparação das técnicas foram: a geometria da amostra (sua forma), tipo de amostra, tempos de preparação e análise e fator de recuperação.
ISSN:1984-0993