Sequential tilting 4D-STEM for reliable electric field mapping across junctions

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:BIO web of conferences 2024, Vol.129, p.4018
Hauptverfasser: Flathmann, Christoph, Ross, Ulrich, Beyer, Andreas, Belz, Jürgen, Volz, Kerstin, Seibt, Michael, Meyer, Tobias
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2117-4458
2117-4458
DOI:10.1051/bioconf/202412904018