Towards smaller single-point failure-resilient analog circuits by use of a genetic algorithm

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Informacije MIDEM (Spletna izd.) 2023-10, Vol.53 (2), p.5-0
1. Verfasser: Ž. Rojec
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0352-9045
2232-6979
DOI:10.33180/InfMIDEM2023.205