N2O2 Tipi Schiff Bazı Ligandı ile Sentezlenen Cu(II) Kompleksinin X-Işını Yapısı ve Termal Özelliği

Cu(II) kompleksinin X-ışınları moleküler yapısı 293 K'de tayin edildi. Cu (II) kompleksi monoklinik yapıda ve uzay grubu P21/n a= 12.4007(14), b= 8.4476(9), c= 20.0286(12) Ã…, β= 97.291(7)°. Termal davranışları diferansiyel termal analiz ve termogravimetrik analiz ile incelendi. Ayrıca Schiff...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Süleyman Demirel Üniversitesi Fen-Edebiyat Fakültesi Fen Dergisi 2013-04, Vol.8 (2), p.163-174
Hauptverfasser: Ahmet Karahan, Alper Yardan, Yasemin Yahşi, Hülya Kara, Raif Kurtaran
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Cu(II) kompleksinin X-ışınları moleküler yapısı 293 K'de tayin edildi. Cu (II) kompleksi monoklinik yapıda ve uzay grubu P21/n a= 12.4007(14), b= 8.4476(9), c= 20.0286(12) Ã…, β= 97.291(7)°. Termal davranışları diferansiyel termal analiz ve termogravimetrik analiz ile incelendi. Ayrıca Schiff bazı ligandının karakterizasyonunda elementel analiz, IR, UV-vis spektroskopisi, termal analiz, 1H-NMR ve 13C-NMR yöntemlerinden faydalanıldı. Anahtar kelimeler: Schiff bazı, Tek Kristal, X-ışınları analizi, Termal analiz The X-Ray Molecular Structure and Thermal Behaviour of Cu (II) Complex, Synthesis With N2O2 Type Schiff Base Ligand Abstract: The X-ray molecular structure of Cu (II) complex at 293 K has been determined. The Cu (II) complex, has been prepared and structurally and thermal characterized. The complex crystallizes in monoclinic space group P21/n with a= 12.407(14), b= 8.4476(9), c= 20.0286(12) Ã…, β= 97.291(7)°. The thermal behavior of the compound was investigated by differential thermal analysis and thermogravimetry. Additionally, Schiff base ligand also characterized by elemental analysis, IR, UV-vis spectroscopy, thermal analysis, 1H-NMR and 13C-NMR. Key words: Schiff base, Single crystal, X-ray analysis, Thermal analysis
ISSN:1306-7575