Studying interface charge distribution in HfO2 and Al2O3 based nanocapacitors by operando electron holography

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	BIO web of conferences 2024, Vol.129, p.29002
Hauptverfasser:	Zhang, Leifeng, Raza, Muhammad Hamid, Gruel, Kilian, Wu, Rong, Dubourdieu, Catherine, Hÿtch, Martin, Gatel, Christophe
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	electric field mapping electron holography
Online-Zugang:	Volltext
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