A Novel Tool for Combined AFM, SEM, and Electrical Probing of Nanostructures

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	BIO web of conferences 2024, Vol.129, p.5011
Hauptverfasser:	Schwalb, Chris, Frerichs, Hajo, Jangid, Darshit, Seibert, Sebastian, Stühn, Lukas, Wolff, Marion, Smith, Andrew Jonathan, Rummel, Andreas
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	afm correlative microscopy nanoprobing sem
Online-Zugang:	Volltext
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