Borsa İstanbul Alt Endekslerinde Etkin Piyasa Hipotezinin Test Edilmesi: Fourier Kırılmalı ve Doğrusal Olmayan Birim Kök Testlerinden Kanıtlar
Bu çalışmanın amacı Borsa İstanbul’da (BİST) yer alan altı endeks için (XU100, XTUMY, XUHIZ, XUMAL, XUSIN, XUTEK) etkin piyasa hipotezinin (EPH) geçerliliğini test etmektir. Bunun için ADF, RALS-ADF, Fourier-ADF ve Fourier-KSS birim kök testlerinden yararlanılmıştır. Analiz dönemi olarak veri buluna...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Ekonomi, Politika & Finans Araştırmaları Dergisi Politika & Finans Araştırmaları Dergisi, 2022-03, Vol.7 (1), p.169-185 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng ; tur |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | Bu çalışmanın amacı Borsa İstanbul’da (BİST) yer alan altı endeks için (XU100, XTUMY, XUHIZ, XUMAL, XUSIN, XUTEK) etkin piyasa hipotezinin (EPH) geçerliliğini test etmektir. Bunun için ADF, RALS-ADF, Fourier-ADF ve Fourier-KSS birim kök testlerinden yararlanılmıştır. Analiz dönemi olarak veri bulunabilirliği açısından her bir endeks için en uzun dönem kullanılmıştır. Literatürden farklı olarak BİST’de yer alan altı endeks için EPH’nin geçerliliği aynı anda hem yapısal kırılmalar hem normal dağılmama durumu hem de doğrusal olmama durumu dikkate alınarak kapsamlı ve karşılaştırmalı bir şekilde incelenmiştir. Elde edilen ampirik bulgulara göre XUHIZ endeksinde uygulanan tüm birim kök testlerinde boş hipotez reddedilememiştir. Yani XUHIZ endeksi için etkin piyasa hipotezi geçerli doğrultusunda güçlü kanıtlar elde edilmiştir. Aksine XUMAL endeksinde ise uygulanan bütün birim kök testleri sonucunda boş hipotez reddedilerek etkin piyasa hipotezinin geçersiz olduğuna yönelik sonuçlar elde edilmiştir. Diğer endekslerde ise yapısal kırılmaların ve doğrusal olmama durumunun dikkate alınmasının sonuçlar üzerinde farklılıklara neden olduğu gözlemlenmiştir. Bu durum da veri setine uygun test seçiminin önemini öne çıkarmaktadır. |
---|---|
ISSN: | 2587-151X 2587-151X |
DOI: | 10.30784/epfad.1041187 |