Exponential software reliability using SPRT: MLE

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Iosr Journals, S. Murali Mohan1 , Dr. R. Satya Prasad 2 , G. Krishna Mohan3
Format:	Dataset
Sprache:	eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
DOI:	10.6084/m9.figshare.1202120