Local Probe Comparison of Ferroelectric Switching Event Statistics in the Creep and Depinning Regimes in Pb(Zr0.2Ti0.8)O3 Thin Films

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Tueckmantel, Philippe, Gaponenko, Iaroslav, Caballero, Nirvana Belen, Agar, Joshua C., Martin, Lane W., Giamarchi, Thierry, Paruch, Patrycja
Format:	Dataset
Sprache:	eng
Schlagworte:	crackling creep depinning exponent ferroelectricity PFM
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