Determination of phonon deformation potentials and strain-shift coefficients in Ge-rich Si 1− x Ge x using bulk Ge-rich Si 1− x Ge x crystals and oil-immersion Raman spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2018-10, Vol.57 (10), p.106601
Hauptverfasser:	Yokogawa, Ryo, Takeuchi, Kazuma, Murakami, Tatsumi, Usuda, Koji, Yonenaga, Ichiro, Ogura, Atsushi
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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