Time response demonstration of in situ lattice deformation under an applied electric field by synchrotron-based time-resolved X-ray diffraction in polar-axis-oriented epitaxial Pb(Zr,Ti)O 3 film
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Veröffentlicht in: | Japanese Journal of Applied Physics 2018-09, Vol.57 (9), p.902 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0021-4922 1347-4065 |
DOI: | 10.7567/JJAP.57.0902B8 |