$X-ray structural analysis of an epitaxially grown Ag film/Si(111)$\sqrt{3} \times \sqrt{3} $-B substrate interface$

X-ray structural analysis of an epitaxially grown Ag film/Si(111)$\sqrt{3} \times \sqrt{3} $-B substrate interface

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2018-07, Vol.57 (7), p.75701
Hauptverfasser:	Yoshiike, Yusaku, Tajiri, Hiroo, Yamazaki, Shiro, Nakatsuji, Kan, Hirayama, Hiroyuki
Format:	Artikel
Sprache:	eng ; jpn
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!