Nanomechanical Thermal Analysis of Indium Films Using Silicon Microcantilevers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2012-08, Vol.51 (8S3), p.8
Hauptverfasser: Yim, Changyong, Yun, Minhyuk, Kim, Seonghwan, Jung, Namchul, Lim, Sang-Hoon, Lee, Moonchan, Rhee, Shi-Woo, Thundat, Thomas, Jeon, Sangmin
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.7567/JJAP.51.08KB07