Investigations of Local Electrical Characteristics of a Pentacene Thin Film by Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy
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Veröffentlicht in: | Japanese Journal of Applied Physics 2012-08, Vol.51 (8S3), p.8 |
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Hauptverfasser: | , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng ; jpn |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 0021-4922 1347-4065 |
DOI: | 10.7567/JJAP.51.08KB05 |