Investigations of Local Electrical Characteristics of a Pentacene Thin Film by Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2012-08, Vol.51 (8S3), p.8
Hauptverfasser: Kimura, Tomoharu, Miyato, Yuji, Kobayashi, Kei, Yamada, Hirofumi, Matsushige, Kazumi
Format: Artikel
Sprache:eng ; jpn
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.7567/JJAP.51.08KB05