Integration Process Development for Improved Compatibility with Organic Non-Porous Ultralow- k Dielectric Fluorocarbon on Advanced Cu Interconnects

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2012-05, Vol.51 (5S), p.5
Hauptverfasser: Gu, Xun, Tomita, Yugo, Nemoto, Takenao, Miyatani, Kotaro, Saito, Akane, Kobayashi, Yasuo, Teramoto, Akinobu, Kuroda, Rihito, Kuroki, Shin-Ichiro, Kawase, Kazumasa, Nozawa, Toshihisa, Matsuoka, Takaaki, Sugawa, Shigetoshi, Ohmi, Tadahiro
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.7567/JJAP.51.05EC03