Nondestructive Measurement of Nonlinear Conduction of Nanoscale Materials, Nanoscale SiO 2 , and K 0.3 MoO 3 by Pulse Photoconductivity Method

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2011-11, Vol.50 (11R), p.116602
Hauptverfasser: Nishi, Yuya, Hirano, Toshimasa, Soh, Yuki, Kubota, Hiroshi, Kobayashi, Kazuhiro, Yoshino, Akira, Kanayama, Toshihiko
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.7567/JJAP.50.116602