Single-Electron Charging in Phosphorus Donors in Silicon Observed by Low-Temperature Kelvin Probe Force Microscope

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2011-08, Vol.50 (8S3), p.8
Hauptverfasser:	Anwar, Miftahul, Kawai, Yuya, Moraru, Daniel, Nowak, Roland, Jablonski, Ryszard, Mizuno, Takeshi, Tabe, Michiharu
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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