Microstructural Characterization in Reliability Measurement of Phase Change Random Access Memory

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2011-04, Vol.50 (4S), p.4
Hauptverfasser:	Bae, Junsoo, Hwang, Kyuman, Park, Kwangho, Jeon, Seongbu, Kang, Dae-hwan, Park, Soonoh, Ahn, Juhyeon, Kim, Seoksik, Jeong, Gitae, Chung, Chilhee
Format:	Artikel
Sprache:	eng ; jpn
Online-Zugang:	Volltext
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