Collective Tunneling Model in Charge-Trap-Type Nonvolatile Memory Cell

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2011-04, Vol.50 (4S), p.4
Hauptverfasser: Muraguchi, Masakazu, Sakurai, Yoko, Takada, Yukihiro, Shigeta, Yasuteru, Ikeda, Mitsuhisa, Makihara, Katsunori, Miyazaki, Seiichi, Nomura, Shintaro, Shiraishi, Kenji, Endoh, Tetsuo
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.7567/JJAP.50.04DD04