Precise determination of polarization fields in c-plane GaN/Al x Ga 1- x N/GaN heterostructures with capacitance–voltage-measurements

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2019-06, Vol.58 (SC), p.SCCB08
Hauptverfasser:	Susilo, Norman, Schilling, Marcel, Narodovitch, Michael, Yao, Hsin-Hung, Li, Xiaohang, Witzigmann, Bernd, Enslin, Johannes, Guttmann, Martin, Roumeliotis, Georgios G., Rychetsky, Monir, Koslow, Ingrid, Wernicke, Tim, Niermann, Tore, Lehmann, Michael, Kneissl, Michael
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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