Effect of Dry Oxidation and Thermal Annealing on AlN/GaN/AlN/Si (111) and Evaluation of its Electrical Characteristics

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Makara journal of science 2021-12, Vol.25 (4)
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2339-1995
2356-0851
DOI:10.7454/mss.v25i4.1249