Frontiers in Crystallography with Synchrotron Radiation. Utilizing of Various Properties of Synchrotron Radiation. High Precision Lattice Spacing Measurement of GaAs Single Crystals

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Nihon Kesshō Gakkaishi 1997, Vol.39 (1), p.99-104
Hauptverfasser:	ANDO, Masami, YASUAMI, Shigeru
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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