Computational Investigation of Electronic and Optical Properties of Si, Ge and Si1-xGex Alloys Using the FP-LMTO Method Augmented by a Plane-Wave Basis

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:American journal of condensed matter physics 2012-08, Vol.2 (1), p.1-10
Hauptverfasser: Zellat, K., Soudini, B., Sekkal, N., Ait Cheikh, S. M.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2163-1115
DOI:10.5923/j.ajcmp.20120201.01