Constrained Deep Learning Methods Generalize Better

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:E-journal of Nondestructive Testing 2023-03, Vol.28 (3)
Hauptverfasser: Syben, Christopher, Schielein, Richard, Maier, Andreas
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1435-4934
1435-4934
DOI:10.58286/27722