Improved transformation of ϕ-divergence goodness-of-fit test statistics based on minimum ϕ-divergence estimator for GLIM of binary data

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	SUT journal of mathematics 2016, Vol.52 (2)
Hauptverfasser:	Taneichi, Nobuhiro, Sekiya, Yuri, Toyama, Jun
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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