Simulation of a Nanoscale SOI TG n-FinFET

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International journal of computer applications 2016-03, Vol.138 (8), p.10-14
Hauptverfasser: El, Nour, Hadri, Baghdad, Caddemi, Alina
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0975-8887
0975-8887
DOI:10.5120/ijca2016908981