Empirical mode decomposition application for short-term flicker severity

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Elektrik : Turkish journal of electrical engineering & computer sciences 2016, Vol.24, p.499-509
Hauptverfasser: ÖNAL, Yasemin, GEREK, Ömer Nezih, ECE, Doğan Gökhan
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1300-0632
1303-6203
DOI:10.3906/elk-1306-201