An Efficient Use of Memory Grouping Algorithm for Implementation of BIST in Self Test

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of Engineering and Applied Sciences 2019-12, Vol.14 (8), p.2695-2700
Hauptverfasser:	Kumar Ojha, Sunil, Singh, O.P., Mishra, G.R., Vaya, P.R.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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