$Diffraction limited X-ray optics: technology, metrology, applications$

Diffraction limited X-ray optics: technology, metrology, applications

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Uspehi fiziceskih nauk 2020-01, Vol.190 (1), p.74-91
Hauptverfasser:	Chkhalo, Nikolai I., Malyshev, Ilya V., Pestov, Alexey E., Polkovnikov, Vladimir N., Salashchenko, Nikolai N., Toropov, Mikhail N.
Format:	Artikel
Sprache:	rus
Online-Zugang:	Volltext
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