Surface analysis of 80K-phase Bi-Sr-Ca-Cu-O single crystal and thin film by SEM and SAM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:SHINKU 1991, Vol.34 (3), p.182-185
Hauptverfasser: KOYAMA, Syoichi, FUTO, Wataru, HIGASHI, Hideaki, FUJIMOTO, Hiroshi, ISHIHARA, Naganori, KISHIDA, Satoru, TOKUTAKA, Heizo, NISHIMORI, Katsumi
Format: Artikel
Sprache:eng ; jpn
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0559-8516
1880-9413
DOI:10.3131/jvsj.34.182