A METHOD TO EXTRACT DIELECTRIC PARAMETERS FROM TRANSMISSION LINES WITH CONDUCTOR SURFACE ROUGHNESS AT MICROWAVE FREQUENCIES

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Progress in electromagnetics research M Pier M 2016, Vol.48, p.1-8
Hauptverfasser:	Huang, Bin-Ke, Jia, Qi
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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