Detection and Observation of Fatigue Damage in Metallic Thin Wires with an A.C. Potential Method and a Digital Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Zairyō 2005, Vol.54 (10), p.1047-1051
Hauptverfasser:	NAKAI, Yoshikazu, HASHIMOTO, Akihisa, TAKETANI, Akihiko
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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